NLOPTICS
Instrumentation et métrologie optique
NLOPTICS développe et commercialise des outils de caractérisation optique non destructive dédiés aux matériaux avancés (GaN, LiNbO3, HfO2, SiC, AlN...) pour la photonique intégrée et les semi-conducteurs. Basée sur l'optique non linéaire, la technologie évalue les coefficients optiques non linéaires et électro-optiques, l'axe optique, l'anisotropie, les défauts cristallins, la qualité des substrats et l'homogénéité des dépôts en couche mince, sans contact ni altération des échantillons.